selftes merupakan sebuah toolbox
ufs yang bisa di gunakan untuk melokalisir suatu kerusakan ponsel
,dengan
tool ini maka akan lebih mempermudah bagi kita untuk menentukan sumber
kerusakan ponsel,
sebagaimana selftes yang ada dalam
komputer maka selftes yang ada pada ufs ini akan sangat akurat dalam menentukan
kerusakan ponsel ,terlebih dengan kerusakan signal , mati total dll, lantas
bagaimana cara menggunakan fitur selftes untuk mencari kerusaka ponsel ,berikut
caranya .
pertama
buka ufs anda ,setelah terbuka
koneksikan ponsel dengan box anda ,perhatikan rx tx nya dengan tepat lalu klik
connect,setelah ponsel terkonek si dengan box klik info untuk mengetahui
keadaan ponsel tunggu hingga muncul info yang di tampilkan oleh ufs tentang
keadaan ponsel anda,setelah itu klik selftes jika ponsel anda bisa masuk ke
lokal mode dalam arti tegangan vio / vcore ada maka akan tampil gambar atau
halaman semacam gambar di bawah ini.
anda perhatikan gambar tersebut ,pada
kolom pertama anda bisa mencentangnya dengan cara mengeklik mous anda sebelah
kiri sebagai pilihan komponen atau area komponen yang akan anda test ,pada
kolom test name merupakan area komponen dan pada kolom reseult di siini akan
menampilkan hasil tet ponsel anda jika baik akan muncul tulisa passed / oke
jika rusak akan menampilkan uksnown resoult,namun sebelumnya perlu anda ketahui
beberapa komponen akan tertampil uksnown resoult ,namun tidak semuanya berarti
rusak,logikanya sebagai berikut ,misal anda mempunyai listrik ,saat listrik
rumah anda anda salurkan ke rumah pak ali pak joni pak hardi dan pak eko maka
saat kabel putus di daerah pak joni / listrik di rumah pak joni mati maka
listrik dirumah pak hardi dan pak eko akan mati semua ,namun apakah listrik di
rumah pak hardi dan pak eko mati tentunya tidak sebab kematian listrik di rumah
pak hardi dan pak eko di karenakan matinya listrik di rumah pak joni,ketiganya
jadi mati karena putusnya jalur dirumah pak joni ,saya harap anda paham dengan contoh
di atas .
oke kita kembali ke pokok pembahasan
setelah keluar seperti gambar di atas anda pilih komponen atau area yang
menjadi kerusakan ponsel anda ,misal ponsel anda rusak padagetar atau
vibra maka anda centang vibra test lalu pilih start test ,dan jika anda
ingin mengetest semua komponen anda bisa centang semua lalu pilih start test
atau selleect all lalu pilih stsrt test,nah lihat hasilnya pada kolom resoult
jika tampil tulisan passed berarti baik jika muncul tulisan uksnown resoult
berarti komponen rusak ,untuk tahu lebih detail tentang arti kerusakan selftest
lihat di bawah .
arti uksnown resoult selft tes
EAR DATA LOOP TEST
Test jalur Ear Data antara CPU & IC
AUDIO (RETU/AVILMA/UEM). Ear Data Loop Test Failed = Contact Service
Perhatikan jalur data nya jika terjadi
kerusakan pada speaker atau bazer
SIM CLK LOOP TEST
Beberapa kerusan pada sim terkadang di akibatkan karena clock pada
simnya jika uknown resoult pada area ini
menandakan clk bermasalah
Test jalur SIM CLK 3V dari RAP IC Power
Connector SIM Card. Bila bermasalah dari IC Power atau RAP
SIM IO CTRL LOOP TEST
Test jalur SIM I/O (SIM Reset) dari RAP
IC Power Connector SIM Card. Bila bermasalah = IC Power, RAP
SLEEPX LOOP TEST
Test jalur SleepX=1,8V dari RAP. Bila
bermasalah = CPU/RAP perlu di cek.
Kerusakan saat phonsel di on hidup
namun saat lampu mati ponselpu mati menandakan sleep x 1,8 volt tak ada
UEM CBUS IF TEST
Test jalur CBUS (Control BUS) dari UEM.
CBUS berguna untuk mengontrol hal2
tegangan. Bila bermasalah = UEM
KEYBOARD STUCK TEST
Test jalur ROW & COL dari CPU
apakah ada yang macet (stuck) alias short tdk keluar tegangan. Asal dari RAP.
untuk mengecek kaypad
CAMERA IF TEST
Test jalur CCP Clock & Data dari
CPU untuk Camera. Bila failed = CPU bermasalah.
LCD TEST
Test Jalur CSX (Chip Select) dari CPU
sehingga LCD terbaca no serialnya. Failed = Jalur CSX dari CPU
LPRF IF TEST
Test jalur output dari IC BT CPU. Bila
failed = IC Blootoot
LPRF AUDIO LINES TEST
Test jalur output dari IC BT CPU. Bila
failed = IC BT
CURRENT CONS TEST
Test Current Consumption (Konsumsi
Arus), Pengukuran arus oleh IC Power. Bila arus short/putus = IC Power
RADIO TEST
Test Output IC FM Radio TEA, output
VAFR nya jika Failed = IC FM Radio bermasalah
BACKLIGHT TEST
Test IC LED Driver melalui jalur PWM IC
Power sbg Enable. Bila failed = IC Power / IC LED Driver bermasalah
SIM LOCK TEST
Test SIM Lock Data pada ponsel BB5.
Bila SIM Lock Corrupted/Lock maka Test jadi failed, HP jadi SIM Lock
SECURITY TEST
Test Security Data. Jika failed
pertanda security area ponsel rusak. Solusi write PM 1&309, HWC&CCC.
dll
BT WAKEUP TEST
Test jalur BT Wakeup dari RAP IC BT.
Kaki Genio CPU di cek, bila Test Failed = CPU.
HOOKINT TEST
Test jalur Hook Det, yaitu jalur Auto
Answer Handfree dari RETU Plugin Handfree. Bila failed = RETU.
TAHVOINT TEST
Test jalur TAHVO Interrupt. Saat Power
On ditekan Tahvo Int akan bereaksi. Bila failed = TAHVO rusak.
SLEEPCLK FREQ TEST
Test output Sleep Clock dari IC Power
(RETU/AVILMA), sebesar 32,768 Khz. Bila Failed = RETU / 32 Khz rusak
BTEMP TEST
Test Resistansi Resistor Btemp 47K ohm.
Bila bermasalah maka R BTEMP ini rusak atau jalurnya ke IC Power.
BT SLEEP CLK TEST
Test Sleep Clock 32,768 menuju IC BT.
Bila bermaslaah kemungkinan besar jalur Sleep CLK menuju IC BT
AMB LIGHT SENSOR TEST
Test Ambient Light Sensor (ALS) dari IC
Power menuju LDR (sensor Cahaya). Bila bermasalah = IC Power
I2C TEST
Test jalur Interface & Interrupt
Control. Yaitu jalur control I2C dari CPU utk IC Camera & FM Radio.
Failed = CPU
EXT DEVICE TEST
Test External Device seperti Memory
Card, dll
CDSP RF BB IF TEST
Test Control CPU IC RF (RF BUS Clock)
RFBUS Data, CLK, Enable & Reset. Bila Failed = CPU
CDSP RF SUPPLY TEST
Test Syarat kerja Tegangan IC RF Input
& Outputnya. Bila ada tegangan yg bermasalah = failed
CDSP TX IQ TEST
Test Signal Data TX I/Q dari CPU yg mau
ditransmit keluar. Bila Failed = CPU
CDSP TXC DATA TEST
Test TXC Power (TX Control) dari IC
Power (RETU/AVILMA). Masalah dari IC Power.
CDSP WCDMA TX POWER TEST
Test Outpput Power untuk WCDMA PA (PA
3G) dari SMPS PA 3G. Bila bermasalah = Signal 3G = SMPS PA 3G
CDSP RX IQ LOOP BACK TEST
Test Output akhir dari IC RF berupa
Signal Data RX I/Q. Hasil mixer dari Signal Operator dgn Signal VCO.
CDSP RX PLL PHASE LOCK TEST
Test Rangkaian kerja RX VCO berupa VCO,
Control VCO dari IC RF (CP Out & 2n2), serta VCC RX VCO
CDSP TX PLL PHASE LOCK TEST
Test Rangkaian kerja RX VCO berupa VCO,
Control VCO dari IC RF (CP Out & 2n2), serta VCC TX VCO
CDSP PWR DETECTOR BIAS TEST
Test mendeteksi power WTXDET untuk PA
3G, IC Power PA. Bila bermasalah = RETU/PA
CDSP GSM TX POWER TEST
Test Power Control untuk IC PA GSM.
Kadang hasilnya Unknown result tidak masalah karena SMPS PA GSM memang tdk ada,
Adanya Power PA dari IC RF.
SEC CAMERA IF TEST
Test Rangkaian kerja Camera Depan, dan
output yg dihasilkannya.
RF CDSP (CELLULAR DIGITAL SIGNAL
PROCESSOR)
ST_CDSP_RF_BB_IF_TEST
ST_CDSP_RF_SUPPLY_TEST
ST_CDSP_TX_IQ_TEST
ST_CDSP_TXC_DATA_TEST
ST_CDSP_WCDMA_TX_POWER_TEST
ST_CDSP_RX_IQ_LOOP_BACK_TEST
ST_CDSP_RX_PLL_PHASE_LOCK_TEST
ST_CDSP_TX_PLL_PHASE_LOCK_TEST
ST_CDSP_PWR_DETECTOR_BIAS_TEST
ST_CDSP_GSM_TX_POWER_TEST
ST_CDSP_RF_BB_IF_TEST
RF BB IF Test artinya jalur Control
dari CPU ke IC RF (RFBUS)
Jika Tidak ada Control dari CPU, maka
secara otomatis, IC RF tdk akan bekerja. Akibatnya hasil Selftest berikutnya
akan Unknown semua.
ST_CDSP_RF_SUPPLY_TEST
RF Supply Test. Test ini memeriksa
supply tegangan pada IC RF. Apabila ada tegangan yang bermasalah maka akan
dilaporkan hasilnya disini dengan hasil Unknown Result.
Jadi hal yang harus kita check adalah
syarat kerja IC RF baik HINKU+VINKU, maupun AHNE, PIHI, AHNEUS.
Syarat kerja HINKU:
Input HINKU :
VBATRF1 = 4V (Untuk diolah menjadi
output VR1 & VOUT)
VCP1 = 4,75V (Untuk diolah menjadi Teg.
CP_OUT yg berubah2 antara 0 s/d 3,3V ke VCO
VR1/VXO = 2,5V adalah Tegangan kerja
bagian Digital untuk HINKU & VINKU & VCTCXO (VDIG)
VREF=1,35V dari RETU/AVILMA untuk IC RF
(VB_EXT)
Teg. Reset dari CPU utk HINKU sebesar
1,8V di J7515
AFC 1,1v utk VCTCXO mengatur fase
frekuensi RF Clock 38,4Mhz
Output HINKU :
VR1 = 2,8V di C7504
VOUT = 2,8V di C7515 untuk tegangan
kerja RX VCO
CPOUT = Teg. Control utk RX VCO.
(~0.98/~1,33/~3.30)
VREF_CM = 0,8V sebagai laporan untuk RAP
Input VINKU :
VBAT1 = 4V (Untuk diolah menjadi VR1
2,8v (VREG1)
VBAT2= 4V (Untuk diolah menjadi VR2
2,8v (VREG2)
VCP2 4,75v Dari RETU untuk VINKU untuk
:
VDAC = Voltage Digital to Analog
Converter
VPLUS = Voltage Plus
Teg. VREF = 1,35 di C7570 untuk
Tegangan Bias VINKU (VB_EXT)
Teg. VR1/VXO dari RETU untuk bagian
Digital VINKU 2,5v
Teg. TX Control (TXC dari RETU utk
VINKU di ukur di C7549) berkisar 1,4V s/d 1,8V
Teg. Reset dari CPU RAP utk VINKU
sebesar 1,8V di J7517 yaitu TXRESETX
Output VINKU :
VR1/VREG1 = 2,8V (Teg. Kerja/Regulator
dari VINKU untuk :
VRF_TX = Tegangan Block Transmitter
VINKU
VR2/VREG2 = 2,8V (Teg. Kerja/Regulator
dari VINKU untuk :
VLO = Voltage Local Oscillator
VVGA = Voltage Gain Amplifier
VPRE = Voltage Pre Amplifier
TXMUX VINKU = TX Multiplexer
TX VCO = Tegangan kerja TX VCO
Chip Detect PA WCDMA & Chip Detect
PA GSM (Identity PA)
Pemberi Tegangan Signal RF WCDMA Output
dari VINKU menuju PA
CPOUT dari VINKU di ukur C7571 sebesar
(~1,23v/~1.70v/~ 3,17v)
VPD dari VINKU utk IC PA berfungsi
untuk mengenable PA Power Detector = 2,8v
VDet dari VINKU utk IC PA berfungsi sbg
Tegangan Control PA, berdasarkan besarnya TXC dari RETU.
RX VCO
VCC = tegangan VOUT 2,8v diukur di
C7515 yg dtg dari HINKU
VC = teg. control CPOUT diukur di C7516
dari HINKU (ada Loop Filter C7524 sebesar 2n2 Farad)
Sebesar 1,33 V utk GSM 900
Sebesar 0,98V utk GSM 1800
Sebesar 3,3V utk 3G 2100 Mhz
TX VCO
VCC = Teg. VREG2 =2,8V yg dtg dari
VINKU
VC = Teg. Control CPOUT diukur di C7568
dari VINKU (ada Loop filter C7573 sebesar 2n2 Farad)
Sebesar 1,7 V pd Band GSM 900
Sebesar 1,23 V pd Band GSM 1800
Sebesar 3,17 V pd Band 3G 2100 Mhz
ST_CDSP_TX_IQ_TEST
TX IQ Test berasal dari RAP menuju IC
RF. TX I/Q tdk keluar menunjukkan masalah pada RAP
ST_CDSP_TXC_DATA_TEST
TX Control berasal dari RAP RETU RF IC
(Vinku TX)
Fungsinya untuk mengontrol kekuatan TX
IC RF.
Datanya dari RAP, sedangkan Controlnya,
tegangannnya dari IC Power RETU. TXC Berkisar 1,4 s/d 1,8V
ST_CDSP_WCDMA_TX_POWER_TEST
WTXDET ini adalah hasil test dari
Regulator PA WCDMA. Apabila Unknown Result bisa diakibatkan dari kerusakan
Regulator PA WCDMA.
ST_CDSP_RX_IQ_LOOP_BACK_TEST
Adalah hasil kerja dari IC RF.
RX I/Q berupa signal data.
Signal Data adalah Signal Operator
setelah dikurangi/dibuang signal pembawanya oleh system kerja PLL.
ST_CDSP_RX_PLL_PHASE_LOCK_TEST
Test ini mencheck system kerja RX PLL
pada ponsel.
Rangkaian yang bekerja yaitu RX VCO
& IC RF.
RX VCO (Voltage Controlled Oscillator)
adalah Oscillator yg mengeluarkan frekuensi. Besarnya keluaran frekuensi
bergantung besarnya tegangan control yg didapatnya.
RX VCO memperoleh tegangan kerja yaitu
VOUT 2,8v dari IC RF.
Dan RX VCO juga memperoleh tegangan
Control yaitu CP_OUT. IC RF sendiri awalnya dari VCP1 4,75v
Jalur tegangan CP OUT memiliki
Rangkaian loop filter berupa Capasitor 2n2 yang sering bermasalah.
ST_CDSP_TX_PLL_PHASE_LOCK_TEST
Test ini mencheck system kerja TX PLL
pada ponsel.
Rangkaian yang bekerja yaitu TX VCO &
IC RF.
TX VCO (Voltage Controlled Oscillator)
adalah Oscillator yg mengeluarkan frekuensi. Besarnya keluaran frekuensi
bergantung besarnya tegangan control yg didapatnya.
TX VCO memperoleh tegangan kerja yaitu
VOUT 2,8v dari IC RF.
Dan TX VCO juga memperoleh tegangan
Control dari yaitu CP_OUT. IC RF sendiri awalnya dari VCP2 4,75v.
Jalur tegangan CP OUT memiliki
Rangkaian loop filter berupa Capasitor 2n2 yang sering bermasalah.
Kondensator 2n2 yang rusak akan
berdampak pembuatan frekuensi terganggu hingga proses penguncian frekuensi sim
gagal.
ST_CDSP_PWR_DETECTOR_BIAS_TEST
Ini adalah hasil test dari Regulator PA
WCDMA. Apabila Unknown Result bisa diakibatkan dari kerusakan Regulator /
pembagi tegangan PA WCDMA.
ST_CDSP_GSM_TX_POWER_TEST
Test ini Mencheck hasil output dari PA
GSM. Tetapi area ini tak mampu terbaca selftest ufs maka ia akan tampil uksnown
resoul terus ,jadi jangan di anggap
0 komentar:
Post a Comment